透射电子显微镜（TEM）于1932年左右发明，是一种以波长极短的电子束作为电子光源，利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品，收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
透射电镜具有分辨率高、可与能谱仪等其他技术联用的优点，在物理、化学、生物学和材料学等多个领域有着广泛的应用。近年来，随着半导体行业飞速发展，相关产品关键结构尺寸的进一步微纳米化，透射电镜逐渐开始作为半导体失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像图
为了让用户对透射电镜相关内容有进一步的了解，此次公开课特意邀请英国曼彻斯特大学材料学博士、广电计量半导体技术副经理刘辰开展主题为《透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用》线上公开课。届时，报名用户不仅能免费参与课程，听课期间还有超强的技术专家团队为大家进行现场答疑。
活动介绍
【主题】透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用
【讲师】刘辰
● 英国曼彻斯特大学材料学博士
● 广电计量MA技术线负责人
● 近十年材料分析和电镜实操经验
此次公开课不仅作为一场公益课程，更对于报名并成功听课的客户提供限时优惠检测服务方案。
【优惠期：2023.3.30-2023.4.30】
常见问题
Q：如何确定已报名成功？
A：扫码报名后界面会提示“报名成功”。其次，如您已经关注广电计量公众号，将会推送报名成功信息。
Q：公开课开始前是否有信息提示？
A：只要您关注公众号并成功报名，在课程前5-10分会提醒您听课。
Q：公开课结束后，课程是否可回放？
A：是的，视频将会限时回放。
文案：李敏霞
编辑：李敏霞